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奧林巴斯45MG超聲測厚儀: 操作簡便、堅固耐用、性能可靠
奧林巴斯45MG超聲波測厚儀是一款帶有各種標準測量功能和軟件選項的超聲測厚儀。這款*特色的儀器與所有Olympus雙晶和單晶測厚探頭兼容，是一款集所有解決方案于一機的創(chuàng)新型儀器，可用于幾乎所有測厚應用。
45MG儀器在使用基本配置時，是一款易懂易學、操作簡便的測厚儀，操作人員經過zui基本的培訓，就可完成zui常用的測厚應用。不過，45MG儀器添加了可選軟件選項和探頭后，就會變成一款極為的測厚儀，可以進行典型的初級儀器不能完成的應用。此外，大多數(shù)選項可以在購買儀器時分別購買，或在日后需要時購買。
奧林巴斯olympus 45MG超聲測厚儀抵御惡劣環(huán)境的能力
奧林巴斯olympus 45MG超聲測厚儀簡便操作的設計理念
| 測量 | |
| 雙晶探頭測量模式 | 從激勵脈沖后的延遲到*個回波之間的時間間隔。 |
| 自動回波到回波（可選） | 在兩個連續(xù)底面回波之間的時間間隔，不計漆層或涂層的厚度。 |
| 穿透涂層測量 （可選） | 利用單個底面回波，測量金屬的實際厚度和涂層厚度（使用D7906-SM和D7906探頭） |
| 單晶探頭測量模式（可選） | 模式1：激勵脈沖與*個底面回波之間的時間間隔。 模式2：延遲塊回波與*個底面回波之間的時間間隔（使用延遲塊或水浸式探頭） 模式3：在激勵脈沖之后，位于*個表面回波后的相鄰底面回波之間的時間間隔（使用延遲塊探頭或水浸式探頭）。 |
| 厚度范圍 | 0.080 mm～635 mm（0.003 in.～25.0 in.）視材料、探頭、表面條件、溫度和所選配置而定（要測量zui全的范圍需要使用單晶選項） |
| 材料聲速范圍 | 0.508 mm/μs～18.699 mm/μs（0.020 in./μs～0.7362 in./μs） |
| 分辨率（可選擇） | 低分辨率：0.1毫米（0.01英寸） 標準分辨率：0.01毫米（0.001英寸） 單晶選項：0.001毫米（0.0001英寸） |
| 探頭頻率范圍 | 標準：2.25 MHz～30 MHz（-3 dB）高穿透（單晶選項）：0.50 MHz～30 MHz（-3 dB） |
| 一般規(guī)格 | |
| 操作溫度范圍 | -10 °C～50 °C（14 °F～122 °F） |
| 鍵盤 | 密封、以色彩區(qū)分功能的鍵盤，帶有觸感及聲音反饋 |
| 機殼 | 防撞擊、防水、裝有密封墊的機殼，機殼上的接口密封。設計符合IP67標準。 |
| 外型尺寸（寬 x 高 x 厚） | 總體尺寸：91.1 mm x 162 mm x 41.1 mm |
| 重量 | 430.9克 |
| 電源 | 3節(jié)AA電池/USB電源供應 |
| 電池工作時間 | 3節(jié)AA堿性電池：20到21小時 3節(jié)AA鎳氫電池：22到23小時 3節(jié)AA鋰離子電池：35到36小時 |
| 標準 | 設計符合EN15317標準 |
| 顯示 | |
| 彩色透反QVGA顯示 | 液晶顯示，顯示屏尺寸：54.61毫米 x 41.15毫米 |
| 檢波 | 全波、RF波、正半波、負半波（波形選項） |
| 輸入/輸出 | |
| USB | 2.0從接口 |
| 存儲卡 | zui大容量：2 GB可插拔MicroSD存儲卡 |
| 內置數(shù)據(jù)記錄器（可選） | |
| 數(shù)據(jù)記錄器 | 45MG通過USB或MicroSD卡識別、存儲、調用、清除及傳輸厚度讀數(shù)、波形圖像和儀器配置信息。 |
| 容量 | 475000個厚度測量讀數(shù)，或20000個帶厚度值的波形 |
| 文件名稱和ID編碼 | 32位字符的文件名，20位字符的字母數(shù)字位碼 |
| 文件結構 | 6個標準的或自定義的用于特定應用的文件結構 |
| 報告 | 機載報告總結了數(shù)據(jù)統(tǒng)計和zui小值/zui大值 |
奧林巴斯olympus 45MG超聲測厚儀標準配置
奧林巴斯olympus 45MG超聲測厚儀軟件選項
奧林巴斯olympus 45MG超聲測厚儀選購附件
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